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X射线扫描电镜能谱仪(EDS)
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美国
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Octane SDD系列探测器能够以****的速度采集高质量EDS数据。以前,由于高计数率会带来数据质量的损失,SDD技术的速度优势一直没有得到充分实现。现在,由于Octane系列的面世,用户可以高速采集高质量数据,**限度地发挥他们的材料分析能力。??

??Octane SDD探测器型号

Octane系列包括四个型号以满足显微分析的不同应用需求。

  • Octane Pro — *适合氧化物、半导体和B-N-C的分析,这些材料需要优秀的分辨率来定量分析轻元素和识别低能X-射线谱线。

  • Octane Plus — 为广泛的应用提供**的性能和价值,包括材料科学、金属、聚合物,EDS-EBSD同步分析和3-D EDS。

  • Octane Super — *适合对空间分辨率具有超高要求的纳米分析和X-射线产生有限的生物材料和其它材料。

  • Octane Ultra — 用于4-D分析,例如原位检测和反应特性,此类应用需要**化X射线的收集。

特点和好处

先进的内置FET谱仪设计

  • Mn能量分辨率可达121 eV高速采集时仍能保持优秀的能量分辨率

  • 所有计数率下保证数据质量

  • 在面分布图速度高达200,000 cps时仍能进行高分辨率的定量分析

***的脉冲处理器

  • **的输入计数到存储数据转换效率。

  • 以极短时间采集面分布图,提高用户工作效率。

  • TEAM™智能软件**化用户分析时间,获得**的样品数据

  • 智能诊断和智能采集**化采集和分析条件。

  • 智能脉冲堆积校正**限度地减少了高计数率采集的影响,使SDD技术得到**限度的应用。

??结论

Octane系列充分实现了SDD技术的承诺 — 高计数率下的高质量EDS分析。它具有业界*稳定的分辨率,针对不同的应用进行设计,使用户可以有更多的时间探索材料,更好地认知材料??

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